Аналитическое оборудование

Лазерный анализатор размеров частиц Fritsch Analysette 22

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ

fritsch_a_22

  • Диапазон измерений диспергирование в жидкой среде: 0,08 – 2000 мкм; диспергирование в сухой среде: 0,1 – 2000 мкм.
  • Возможные диапазоны измерений: 0,08 – 45 мкм / 15 – 2000 мкм / 0,08 – 2000.
  • Лазер два полупроводниковых лазера; зеленый (λ = 532 нм, 7 мВт); ИК (λ = 850 нм, 9 мВт); линейная поляризация.
  • Количество классов размеров частиц Макс. 108.
  • Оптическая конструкция инверсная конструкция Фурье, перемещаемая измерительная ячейка.
  • Линзы Фурье фокусное расстояние 260 мм и 560 мм (зеленый или инфракрасный); диаметр лазерного пучка в линзе Фурье 10 мм.
  • Типичная продолжительность измерения 5 – 10 с (регистрация результатов одного измерения), 2 мин (полный цикл измерения).
  • Среднее время работы в часах за неделю: 1 2 ч.

Дата ввода в эксплуатацию – 2013 г.

ТРЕБОВАНИЯ К ОБРАЗЦАМ

Любые порошковые материалы.
ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ
Измерение размеров частиц в диапазоне от 80 нм до 2000 мкм, что обеспечивает ему широкое применение при анализе дисперсий в растворителях и порошкообразных материалов.

Материаловедческий оптический микроскоп MTI MM500T

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИmti_mm500t

  • Увеличение – От 50× до 1000×.
  • Среднее время работы в часах за неделю: 10 ч.

Дата ввода в эксплуатацию – 2013 г.

ТРЕБОВАНИЯ К ОБРАЗЦАМ
Максимальная высота образца – 40 мм.
МЕТОД
Конструкция микроскопа позволяет работать как в отраженных лучах, так и на просвет. Микроскоп имеет регулировки яркости, затвора диафрагмы и набор различных фильтров для получения качественного изображения. В состав микроскопа так же входит цифровая камера с компьютерным и программным обеспечением для создания цифровых изображений высокого разрешения.
ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
Thixomet Lite. Панорамные исследования лежат в основе работы многих методик Thixomet. Расширенный фокус: из нескольких изображений, сфокусированных на разных фрагментах, можно собрать изображение всего поля зрения в остром фокусе. Для удобства построения и последующего исследования панорамных изображений в Thixomet реализованы функции навигатора и позиционирования предметного стола. Функция выделения и распознавания объектов.
ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ
Микроскоп позволяет проводить металлографические и другие оптические исследования порошков, порошковых заготовок и компактированных образцов, а так же проводить контроль различных процессов шлифовки, полировки, травления и других операций.

Поляризационный микроскоп металлографический МЕТАМ РВ-21-1

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИmetam_pb-21-1

  • Увеличение: от ×50 до ×1000.
  • Диапазон перемещения предметного столика: в продольном направлении от 0 до 70 мм; в поперечном направлении от 100 до 150 мм.
  • Цена деления шкал: предметного столика 1 мм; нониуса механизма 0,10 мм; микрометрической фокусировки 0,002 мм.
  • Максимальная нагрузка 1 кг.
  • Среднее время работы в часах за неделю: 10 ч.

Дата ввода в эксплуатацию – 2011 г.

ОСНОВНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ ПРОГРАММЫ ВидеоТесТ – Структура 5.2:
Ввод изображений с помощью телевизионных и цифровых камер (в том числе 8, 10, 12, 16 битных), сканера, открытие изображений из файлов, копирование из буфера.
Автоматическая сшивка изображений в заданном направлении.
Получение резкого изображения из серии изображений, части которых находятся не в фокусе.
Произведение измерений в реальных единицах.
Возможность работать с серией изображений, относящихся к одному эксперименту или образцу, и результатами их измерений в составе одного документа. Удобный просмотр информации. Сохранение серии изображений с результатами измерений в одном документе.
Преобразование изображений с помощью фильтров (повышение яркости, контраста и визуального качества исходного изображения, морфологические преобразования).
Создание 3 – D модели изображения.
«Разрез по яркости» с возможностью измерения расстояния между отдельными точками разреза.
Нанесение на изображение графики (контуров и линий) для выделения интересующих элементов.
Автоматическое выделение объектов и фаз на изображении по яркости и цвету.
Автоматическое измерение выделенных объектов, представление результатов измерений в табличной форме.
Ручные измерения (линейные, угловые, радиус окружности, подсчет количества объектов и т.д.).
Широкие возможности классификации объектов, статистического анализа полученной информации, построение диаграмм и графиков зависимости.
Передача изображений и полученных результатов во встроенную базу данных.
Сохранение изображений и полученных результатов, вывод на печать в виде стандартных отчетов.
Расчет параметра однородности распределения объектов на изображении.

МЕТОД
Оптический микроскоп для наблюдения объектов в отраженном и поляризованном свете.
ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ
Визуальное наблюдение микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете при прямом освещении в светлом и темном поле, а также для исследования объектов в поляризованном свете и методом дифференциально-интерференционного контраста.

Просвечивающий электронный микроскоп Carl Zeiss Libra-120

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИlibra-120

  • Электропитание – 380 В переменного тока, ± 10 %.
  • Максимальная потребляемая мощность – 16 кВт.
  • Температура в помещении 21 ± 4 °С, относительная влажность воздуха менее 65 %.
  • Ускоряющее напряжение 80 и 120 кВ. Катод – W или LaB6.
  • Гарантированное разрешение – 0,34 нм по точкам, 0,2 нм по линии. Максимальное увеличение 630000 крат.
  • Полностью безмасляная система откачки, вакуум в камере образцов, электронной пушке и электронно-оптической колонне 10-7 торр.
  • Среднее время работы в часах за неделю: 40 ч.

Дата ввода в эксплуатацию – 2008 г.

ТРЕБОВАНИЯ К ОБРАЗЦАМ
Диски 3 мм в диаметре, максимальная толщина исследуемой области 1500 Å.
МЕТОД
Исследование внутренней структуры образца, получение изображения с фильтрацией электронов по энергии. Исследование элементного состава образца (EELS). Анализ фазового состава с использованием режима микродифракции.
Встроенный в колонну спектрометр энергетических потерь электронов (EELS-спектрометр), позволяет проводить спектральный анализ для определения химического состава вещества при исследованиях полупроводников, материаловедческом анализе и исследованиях в других областях, а также обеспечивает интегральную фильтрацию изображения.
ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ
Во всех областях промышленности и науки, где требуются исследования внутренней структуры образцов и анализ элементного состава.

Растровый электронный микроскоп Carl Zeiss EVO 50

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ

  • evo_50 Электропитание – 220 В переменного тока, ±10 %.
  • Максимальная потребляемая мощность – 3 кВт.
  • Ускоряющее напряжение от 100 В до 30 кВ. Катод – W или LaB6.
  • Гарантированное разрешение – 3 нм.
  • Анализ элементов от 5B до 92U.
  • Температура в помещении 21±4°С, относительная влажность воздуха менее 65 %.
  • Полностью безмасляная система откачки, вакуум в камере для образцов 10-6 торр, вакуум в электронной пушке и электронно-оптической колонне 10-7 торр.
  • Среднее время работы в часах за неделю: 40 ч.

Дата ввода в эксплуатацию – 2007 г.

ТРЕБОВАНИЯ К ОБРАЗЦАМ
Максимальные размеры образца: 20 мм в высоту и 150 мм в диаметре. Для исследования топографии поверхности предварительной подготовки образцов практически не требуется, кроме очистки исследуемой поверхности от возможных загрязнений.
При исследовании образцов методами рентгеноспектрального микроанализа для получения точных количественных данных поверхность должна быть тщательно отполирована.
Для проведения EBSD-исследований поверхность должна быть отполирована и свободна от деформации, вызванной механической подготовкой. Удаление наклепанного поверхностного слоя достигается либо электрополировкой образцов, либо финишным полированием на оксидных суспензиях.
МЕТОД
Исследование топографии и структуры поверхности, получение изображения во вторичных и обратно-рассеянных электронах. Рентгеноспектральный микроанализ элементного состава с использованием энергодисперсионного и волнодисперсионного спектрометров (EDS, WDS). Детектор дифракции обратно-рассеянных электронов – анализ фазового состава и текстуры (EBSD).
ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ
Во всех областях промышленности и науки, где требуются исследования структуры поверхности образцов и анализ элементного состава.

Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6610LV

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ

  • jeol_jsm-6610lv Электропитание – 220 В переменного тока, ±10 %, установлен источник бесперебойного питания.
  • Максимальная потребляемая мощность – 3 кВт.
  • Ускоряющее напряжение от 300 В до 30 кВ. Катод – W или LaB6.
  • Гарантированное разрешение – 3 нм.
  • Анализ элементов от 5B до 92U.
  • Температура в помещении 25±4 °С, относительная влажность воздуха менее 65 %.
  • Полностью безмасляная система откачки, вакуум в камере для образцов 10-6 торр, вакуум в электронной пушке и электронно-оптической колонне 10-7 торр.
  • Среднее время работы в часах за неделю: 25 ч.
  • Требуется подключение газа (Ar-CH4).

Дата ввода в эксплуатацию – 2011 г.

ТРЕБОВАНИЯ К ОБРАЗЦАМ
Максимальные размеры образца: 80 мм в высоту и 75 мм в диаметре. Для исследования топографии поверхности предварительной подготовки образцов практически не требуется, кроме очистки исследуемой поверхности от возможных загрязнений.
При исследовании образцов методами рентгеноспектрального микроанализа для получения точных количественных данных поверхность должна быть тщательно отполирована.
МЕТОД
Исследование топографии и структуры поверхности, получение изображения во вторичных и обратно-рассеянных электронах. Рентгеноспектральный микроанализ элементного состава с использованием энергодисперсионного и волнодисперсионного спектрометров (EDS, WDS).
ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ
Во всех областях промышленности и науки, где требуются исследования структуры поверхности образцов и анализ элементного состава.
МЕСТОРАСПОЛОЖЕНИЕ ПРИБОРА, ОТВЕТСТВЕННОЕ ЛИЦО
Корпус Д, комната Д-223, доцент Тенишев Андрей Вадимович.
Телефон (495) 788-56-99 доб. 9804, e-mail: onil709@mail.ru.

Рентгеновский дифрактометр Bruker D8 Discover

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ

  • bruker_d8_d Электропитание – 220 В переменного тока, ± 10 %.
  • Максимальная потребляемая мощность – 6 кВт.а
  • Материал анода источника рентгеновского излучения – Cu или Co.
  • Подвеска образца имеет моторизованные оси χ, φ, X, Y, Z.
  • Поворот по углу χ в интервале от -3° до +93°.
  • Поворот по углу φ: 360°.
  • Минимальный шаг по углу θ и 2θ: ± 0,0001°.
  • Вакуумный вращающийся держатель образцов диаметром 125 мм.
  • Позиционно-чувствительный детектор LynxEye линейного типа с числом каналов 190.
  • Параболическое фокусирующее многослойное рентгеновское зеркало (зеркало Гёбеля) для Cu-излучения для формирования первичного параллельного пучка излучения.
  • Высокотемпературная приставка, позволяющая проведение измерений при температурах от комнатной до 1100 °С в вакууме или газовой среде.
  • Среднее время работы в часах за неделю: 50 ч.
  • Не требуется подключение воды, газа.

Дата ввода в эксплуатацию – 2012 г.

ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
Для качественного фазового анализа DIFFRAC.EVA с международной базой рентгенографических данных ICDD PDF-2.
Для анализа полного профиля дифракционного спектра методом Ритвельда DIFFRAC.TOPAS v.4.2.
Для определения остаточных макронапряжний DIFFRAC.Leptos.
Для исследования кристаллографической текстуры Multex.
ТРЕБОВАНИЯ К ОБРАЗЦАМ
Максимальные размеры образца: 45 мм по высоте и 100 мм в диаметре; в случае использования высокотемпературной приставки: 2 мм по высоте и 15 мм в диаметре. Качество поверхности образцов определяется задачами исследования.
МЕТОД
Определение качественного и количественного фазового состава материала, типа и параметров кристаллической решетки фаз, остаточных макро- и микронапряжений, текстурных характеристик (построение ФРО, ППФ и ОПФ).
ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ
Во всех областях промышленности и науки, где требуются исследования фазового состава, структурных и текстурных характеристик материалов, в том числе при высоких температурах.

Сканирующий мультимикроскоп СММ-2000 + бинокулярный стереомикроскоп МБС-10

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ

Характеристики СММ-2000:

  • cmm-2000Область сканирования от 5×5 Å до 2×2 мкм.
  • Размер наблюдаемых объектов от 1 нм до 0,3 мкм.
  • Латеральное разрешение до 0,1 Å.
  • Разрешение по высоте до 0,02 Å.
  • Диапазон туннельного тока от 10 пА до 10 нА с точностью 5 пА.
  • Прикладываемое напряжение -5 В…+5 В, точность 1 мВ.
  • Размер образца до 10×12 мм; толщина образца от 0,4 мм до 1,5 мм.
  • Опции программного обеспечения: сканирование, кривые подвода и ВАХ, двух / трехмерные кадры, измерение размеров по сечениям, процентильные и матричные обработки; поточечная коррекция, анализ шероховатостей ISO; Фурье, корреляционный, фрактальный, морфологический и гранулометрический анализы.

Характеристики МБС-10

  • Увеличение, крат, в пределах 4,6× — 100,8×; линейное поле зрения в пределах 39 — 2,4 мм; рабочее расстояние не менее 95 мм; источник света лампа 8 В / 20 Вт).
  • Среднее время работы в часах за неделю: 10 ч.
    Дата ввода в эксплуатацию – 2007 г.

МЕТОД
Микроскоп имеет два режима работы: сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) и атомно-силовой микроскоп (АСМ).
ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ
Исследование систем нанокластеров металлов на поверхности подложки, анализ формы кластеров, распределения по размерам и расстояниям до ближайших соседей, исследование структуры тонких пленок.